Method for expanding the object base of examination by stitching solutions of hierarchy analysis method
Автор: Bukharin S.V., Melnikov A.V., Menshih V.V.
Рубрика: Программирование
Статья в выпуске: 2 т.10, 2017 года.
Бесплатный доступ
The paper presents the results on numerical modelling of the quality of opto-electronic detectors. In order to demonstrate a successful application of the proposed method of the object base extension, we use examples of hierarchy analysis of generalized quality index and integrated quality-price index. The proposed methodology allows reliable analysis the number of objects up to 21-24, that is enough for the most practical cases of examination.
Hierarchy analysis method, optoelectronic detectors, quality index
Короткий адрес: https://sciup.org/147159429
IDR: 147159429 | DOI: 10.14529/mmp170206
Список литературы Method for expanding the object base of examination by stitching solutions of hierarchy analysis method
- Саати, Т. Принятие решений: Метод анализа иерархий/Т. Саати. -М.: Радио и связь, 1993. -278 с.
- Саати, Т.Л. Принятие решений при зависимостях и обратных связях. Аналитические сети/Т.Л. Саати. -М.: Издательство ЛКИ, 2008. -360 с.
- Дилигенский, Н.В. Нечеткое моделирование и многокритериальная оптимизация производственных систем в условиях неопределенности: технология, экономика, экология/Н.В. Дилигенский, Л.Г. Дымова, П.В. Севастьянов. -М.: Машиностроение, 2004. -397 с.
- Бухарин, С.В. Кластерно-иерархические методы экспертизы экономических объектов/С.В. Бухарин, А.В. Мельников. -Воронеж: Научная книга, 2012. -276 с.
- Бухарин, С.В. Методы нейронных сетей в экспертизе технических средств охраны/С.В. Бухарин, С.А. Мальцев, А.В. Мельников. -Воронеж: Научная книга, 2016. -177 с.
Статья научная
