Математическое моделирование рентгеновской дифракции на пористых кристаллах. 2. Диффузное рассеяние

Автор: Пунегов В.И.

Журнал: Известия Коми научного центра УрО РАН @izvestia-komisc

Статья в выпуске: 4 (12), 2012 года.

Бесплатный доступ

На основе теории диффузного рассеяния рентгеновских лучей в пористых кристаллах проведено численное моделирование двумерных автокорреляци- онных функций и карт изодиффузных линий в обратном пространстве. Для модели пор цилиндрической формы получены выражения для статического фактора Дебая-Валлера, собственной корреляционной функции и корреляци- онного объема. На примере пор цилиндрической, сфероидальной формы и пор в виде прямоугольного параллелепипеда продемонстрировано многообразие дифракционных картин в зависимости от величины пористости, размеров пор и их пространственного порядка.

Статистическая теория рентгеновской дифракции, когерентное рассеяние, пористые кристаллы, численное моделирование

Короткий адрес: https://sciup.org/14992559

IDR: 14992559

Список литературы Математическое моделирование рентгеновской дифракции на пористых кристаллах. 2. Диффузное рассеяние

Föll H., Leisner M., Cojocaru A., Carstensen J. Self-organization phenomena at semiconductor electrodes//Electrochimica Acta. 2009.Vol.55. P.327-339.
Föll H., Leisner M., Cojocaru A., Carstensen J. Macroporous semiconductors//Materials 2010. Vol.3. P. 3006-3076.
Granitzer P., Rumpf K., Pölt P., Reichmann A., Krenn H. Self-assembled mesoporous silicon in the crossover between irregular and regular arrangement applicable for Ni filling//Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures. 2007. Vol.38. P.205-210.
Tiginyanua I. M., Kravetsky I. V., Monecke J. et al. Semiconductor sieves as nonlinear optical materials//Applied Physics Letters. 2000. Vol. 77. P. 2415-2417.
Nohavica D., Gladkov P., Zelinka J. et al. "Micro and Nanopores Formation in A III B V Semiconductors"//Proc. of the Conf., NANO. Brno, 2004. P.176-182.
Ломов А.А., Пунегов В.И., Васильев А.Л. и др. Рентгенодифракционные исследования многослойной пористой структуры InP(001)//Кристаллография. 2010. Т.55. № 2. С. 212-220.
Li X., Um H., Jung J., Seo H., Lee J. Triangular GaAs Microcones and Sharp Tips Prepared by Combining Electroless and Electrochemical Etching//J. Electrochem. Soc. 2010. Vol.157 P.D1-D4.
Nohavica D., Gladkov P., Jarchovský Z., Zelinka J. Defect structure modifications by porous InP and non-izoperiodical heterojunctions growth on micropores containing InP and GaP//Acta Metallurgica Slovaca, 2008 Vol.14. P. 240 -246.
Пунегов В.И. Математическое моделирование рентгеновской дифракции на пористых кристаллах. 1. Когерентное рассеяние//Известия Коми НЦ УрО РАН. 2012. № 3. С. 10-19 (первая часть данной работы).
Lomov A.A. Bellet D., Dolino G. X-ray Diffraction Study of Thin Porous Silicon Layers//Phys. Stat. Sol. (b). 1995. Vol.190. P. 219-226.
Punegov V.I, Lomov A.A., Shcherbachev K.D. Characterization of InP porous layer by highresolution x-ray diffraction//Phys. Stat. Sol. (a). 2007. Vol. 204. P. 2620-2625.
Пунегов В.И., Ломов А.А. Теория дифракции рентгеновских лучей в нанопористых кристаллах с латеральной квазипериодичностью//Письма в ЖТФ. 2008. Т.34. № 6. C.30-35.
Ломов А.А., Пунегов В.И., Васильев А.Л. Рентгенодифракционные исследования многослойной пористой структуры InP(001)//Кристаллография. 2010. Т.55. № 2. С. 196-204.
Пунегов В.И., Ломов А.А. О рассеянии рентгеновских лучей на многослойных пористых структурах//Письма в ЖТФ. 2010. Т. 36. № 3. C.60-67.
Punegov V. I., Kharchenko A. V. Effect of multiple diffuse scattering on the dynamical diffraction of x-rays in nonuniform layer crystals containing microdefects//Crystallography Reports.1998. Vol.43. Nо. 6. P. 1020-1025.
Бушуев В.А. Влияние пространственной корреляции квантовых точек на диффузное рассеяние рентгеновских лучей//Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. № 9. С.29-34.
Пунегов В.И. Паракристаллическая модель в статистической теории рентгеновской дифракции на эпитаксиальных слоях с квантовыми точками//Письма в ЖТФ. 2011. Т. 37. № 15. C.8-16.
Kato N. Statistical Dynamical Theory of Crystal Diffraction. I. General Formulation//Acta Cryst. A. 1980. Vol.36. P. 763-769.
Бушуев В.А. Угловое распределение интенсивностей динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с микродефектами в геометриях Лауэ и Брэгга. М.: ВИНИТИ, 1988. № 486-В88. 51с.
Пунегов В.И. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей от сферически-симметричных кластеров. Влияние флуктуаций размера дефектов//Кристаллография. 2009. Т.54. № 3. С. 415-423.
Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Бýйлисс С. Структура слоев пористого германия по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии//Кристаллография. 2003. Т. 48. С. 362-371.
Пунегов В.И. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей пористым кристаллом со сфероидальной формой пор//Письма в ЖТФ. 2012. Т. 38. № 11. C.53-60.

Еще

Статья научная