Научные статьи \ Математика. Естественные науки \ Физика

Оптика - 535

Научные статьи

В разделе "Оптика"
Локальное легирование алюминиевых сплавов с применением лазерного воздействия
Передача электронного возбуждения в ап-конверсионных наночастицах, содержащих редкоземельные ионы
Генератор излучения на основе нелинейного метаматериала с отрицательным показателем преломления
Оптические таммовские состояния на границе раздела холестерический жидкий кристалл - металл
Острая фокусировка лазерного света путем резонансного возбуждения в однородном диэлектрическом микроцилиндре
Исследование методов "слепого" разделения сигнала
Диагностика тонких полупроводниковых слоев с помощью спектроскопии поверхностного плазмонного резонанса с использованием света круговой поляризации
Моделирование определения длины световой волны с помощью дифракционной решетки на Python
Моделирование внешнего фотоэлектрического эффекта на фотоэлементах с использованием Python
Об особенностях метрологического обеспечения эллипсометрии. Новый метрологический критерий
Эллипсометр, сочетающий в себе «нулевой» и фотометрический подходы
О характере математической некорректности обратной задачи эллипсометрии для сверхтонких поверхностных пленок
Критерии выбора оптимальной точки при решении некорректной обратной задачи эллипсометрии для сверхтонких поверхностных пленок
Обеспечение температурной устойчивости параметров компенсатора эллипсометра
Развитие эллипсометрии
О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 1. Общее описание основных направлений исследования
О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 2. О роли углов полной поляризации в эллипсометрии
О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 3. Методы прецизионного определения параметров фазового компенсатора эллипсометра
О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 4. Исследование относительно толстых прозрачных пленок и нарушенных поверхностных слоев на прозрачных материалах
О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 5. Углы полной поляризации в эллипсометрии поглощающих сред
QR-код для установки приложения SciUp Наведите камеру и скачайте бесплатное приложение SciUp