Simplified instrumentation for ultrasonic measurements
Gandole Yogendra Babarao,
Yawale Shrikrishna Pandurangji,
Yawale Sangita Shrikrishna
Контроль параметров ультразвуковых технологических аппаратов
Хмелев Владимир Николаевич,
Абраменко Денис Сергеевич,
Барсуков Роман Владиславович,
Генне Дмитрий Владимирович
Возможность дефектоскопии металлических деталей СВЧ полем
Горбунов Владимир Иванович,
Суторихин Владимир Анатольевич