Электротехника - 621.3

Научные статьи

В разделе "Электротехника"
Стабилизация параметров механических колебаний образца в вибрационном магнитометре
Получение одинаковой разрешающей способности м в квадрупольном масс-спектрометре в широком диапазоне масс
Прецизионный быстродействующий высокочастотный генератор квадрупольного масс-анализатора
Использование недетерминированных конечных автоматов и индекса масс пептидов для быстрого сопоставления фрагментных масс-спектров пептидов базам данных аминокислотных последовательностей
Сеть с симметричной функцией преобразования нейронов на основе статистик высокого порядка для снижения шума нестационарного сигнала
Анализ продуктов реакции окисления 2-метил-(4s)-изопропил-2-оксазолина методом ESI-TOF
Калориметрическое определение энтальпии растворения тетратрифторацетата и тетраацетата димолибдена(II) в донорных растворителях. Определение состава аддуктов методом масс-спектрометрии
Идентификация алкилированного аддукта сывороточного альбумина человека методами масс-спектрометрии
Масс-спектрометрия с мягкими методами ионизации в токсикологическом анализе (обзор)
Исследование поверхностных свойств наноструктур (пленок Лэнгмюра-Блоджетт), содержащих ионы железа, и определение их состава с привлечением методов масс-спектрометрии
Разработка системы ввода наноколичеств пробы в масс-спектрометр
Монополь как ортогональный ускоритель для времяпролетного анализатора
Модификация вейвлет-преобразования: концепция и приложение
Применение оптических энкодеров в микросканерах СЗМ с большим диапазоном сканирования
Чувствительные элементы датчиков на дисперсионных линиях задержки
Исследование алгоритмов отбраковки выбросов в масс-спектрометрических сигналах
Регистрация изменения состояния поляризации физически адсорбированных молекул на поверхности твердых тел
Снижение вклада порога в девиацию масштаба времени аналоговых устройств линейного экспандирования
Многоканальное устройство тестирования вторичных химических источников тока и электрохимических ячеек
Возможности алгоритма сверток с производными для оценки параметров масс-спектров, содержащих наложившиеся пики